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羅德和施瓦茨發布了片器件測試解決方案

（2024年11月27日更新）

羅德和施瓦茨為在片器件的完整射頻性能表征提供了測試解決方案Memsic代理結合羅德和施瓦茨的實力R&S ZNA矢量網絡分析儀和FormFactor先進的工程探針臺系統。半導體制造商可以在產品開發、認證和生產階段進行可靠和可重復的測試。

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整個在片測量工作原因R&S ZNA矢量網絡分析儀和FormFactor SUMMIT200探針臺系統一起完成。

5G 在優化設備效率的同時，射頻前端設計師需要確保適當的設備輸出功率和射頻帶寬。驗證射頻設計是設計過程中的一個重要階段，盡快獲得相關設計反饋和評估DUT晶圓級的功能和性能。晶圓環境對 DUT測試特性所需的測量系統包括矢量網絡分析儀(VNA)、探針臺、RF探針、電纜或適配器、專用校準方法DUT或相關校準片等。

羅德和施瓦茨推出，以滿足這些重要的測量要求R&S ZNA67 GHz上述擴頻模塊。分析儀可以表示同軸和波導級的所有射頻特性參數。FormFactor該系統包括熱控、高頻探針、探針定位器和校準工具決，包括熱控、高頻探針、探針定位器和校準工具。FormFactor WinCal XE校準軟件支持整個測試系統的校準，包括R&S ZNA的校準。

完全校準整個測試系統后，用戶可以使用它R&S ZNA所有測試功能。通用S參數測試可以表示濾波器和有源設備的特性；失真、增益和交調測試可以驗證功率放大器的特性。該組合測試系統還可以測量混頻器工作帶寬中的變頻相位。完全校準的測試系統允許用戶直接從VNA由于校準數據已直接應用于所有測試結果，因此無需進行后處理VNA之中。羅德和施瓦茨的擴頻模塊擴展到亞太赫茲頻率，如D波段，目前是6G關鍵頻段的研究。擴頻模塊集成到探針臺中，以確保最短的連接和理想的動態范圍，避免電纜連接到探針尖端造成的額外損失。