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新興太空領(lǐng)域更令人興奮的是發(fā)射大量近地軌道 (LEO) 衛(wèi)星體積小，經(jīng)濟(jì)可行，具有抗輻射性和可靠性，增強(qiáng)了世界通信和連接性。在以前的衛(wèi)星領(lǐng)域，大多數(shù)任務(wù)都高達(dá)地球 22,236 英里地球同步軌道，預(yù)計(jì)持續(xù)時(shí)間超過 10 與年不同的是，LEO 衛(wèi)星的軌道離地球更近，不超過 1,300 英里。由于這些衛(wèi)星相對(duì)容易更換，其工作壽命通常不到七年。

在符合嚴(yán)格預(yù)算并保持競(jìng)爭力的情況下，LEO 衛(wèi)星電子設(shè)計(jì)的主要挑戰(zhàn)是：

● 使用更小、更集成的元件來減小電路板的尺寸。

● 找到交貨周期短的設(shè)備進(jìn)行短周期設(shè)計(jì)。

● 使用能夠承受空間惡劣條件的電子元件。

對(duì)于剛進(jìn)入航天領(lǐng)域的設(shè)計(jì)師來說，航天領(lǐng)域具有陸地產(chǎn)品無法解決的具體挑戰(zhàn)，包括：

● 輻射性能。

● 商用現(xiàn)成 (COTS) 典型的控制工藝和材料變化。

Anpec代理● 當(dāng)衛(wèi)星繞地球運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)，由于溫度波動(dòng)劇烈，會(huì)產(chǎn)生熱循環(huán)。

● 未密封塑料封裝釋氣。

TI 的航天 EP 認(rèn)證過程克服了上述挑戰(zhàn)，因此不需要使用高風(fēng)險(xiǎn)和資源密集型升級(jí)篩選方法（以前偶爾使用）。升級(jí)篩選是在數(shù)據(jù)表規(guī)格以外的條件下測(cè)試設(shè)備的電氣或環(huán)境。雖然升級(jí)篩選有助于分類航天器件的性能，但仍存在許多風(fēng)險(xiǎn)。如果升級(jí)篩選不完全了解設(shè)備的配方及其測(cè)試向量，可能導(dǎo)致現(xiàn)場(chǎng)故障和任務(wù)執(zhí)行期間衛(wèi)星正常運(yùn)行的錯(cuò)誤安全感。

如何降低抗輻射塑料器件的風(fēng)險(xiǎn)？

利用 TI 設(shè)計(jì)師和設(shè)備工程師可以在不考慮衛(wèi)星的情況下設(shè)計(jì)和驗(yàn)證航天產(chǎn)品的電路板 LEO 航天環(huán)境中的具體注意事項(xiàng)。 EP 產(chǎn)品不需要考慮的部分注意事項(xiàng)包括：

● 受控基線流程。每個(gè)航天。 EP 器件，TI 為了減少材料組合、輻射耐受性和電氣規(guī)格的差異，在制造工廠、裝配場(chǎng)所和測(cè)試場(chǎng)所進(jìn)行了制造。

● 輻射批驗(yàn)收試驗(yàn)。航天 EP 測(cè)試后，至少確保每個(gè)晶圓批次的電離輻射總劑量 (TID) 為 20krad (Si)(能滿足更高 TID 對(duì)額定量設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，以消除任何批次之間輻射差異的風(fēng)險(xiǎn)。這些設(shè)備通常在認(rèn)證期間高達(dá) 30krad (Si) 至 50krad (Si) 的 TID，額外的輻射性能可以實(shí)現(xiàn)。(需要更高的層次 TID 性能項(xiàng)目，TI 以前的 QMLV 航天產(chǎn)品的額定值通常是 100krad(Si) 或更高。）

● 金線。航天 EP 該裝置僅使用金鍵合線，以消除銅在更嚴(yán)格的容差要求下可能出現(xiàn)的鍵合完整性和可靠性問題。

● 無錫需要風(fēng)險(xiǎn)。由于空間條件惡劣，即使使用塑料涂層，也要考慮錫須問題。為了避免這種風(fēng)險(xiǎn)，太空 EP 產(chǎn)品不使用錫含量高的端子。相反，涂層使用鎳-鈀-金或 63% 錫/37% 鉛。

● 工作溫度范圍。航天環(huán)境通常需要 -55°C 至 125°C 溫差 EP 設(shè)備限制在溫度范圍內(nèi)后，無需升級(jí)和篩選工作溫度范圍，否則會(huì)使設(shè)備 TI 飛行中使用的設(shè)備可能會(huì)因保修失效而損壞。

● 惡劣環(huán)境資質(zhì)認(rèn)證。 EP 產(chǎn)品接受更嚴(yán)格的高加速應(yīng)力認(rèn)證過程，如更嚴(yán)格的高加速應(yīng)力試驗(yàn)、各設(shè)備和增強(qiáng)材料的溫度循環(huán)試驗(yàn)，以滿足要求 NASA 美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)牽頭 E-495 釋氣規(guī)格要求。

加快產(chǎn)品推出時(shí)間表

憑借 TI 航天 EP 設(shè)計(jì)師可以更快地開發(fā)和驗(yàn)證設(shè)備的質(zhì)量和可靠性。在 TI.com 在上述設(shè)備產(chǎn)品文件夾中，我們提供了 LEO 所有輻射數(shù)據(jù)、釋氣數(shù)據(jù)和可靠性報(bào)告都需要優(yōu)化設(shè)備。使用我們的詳細(xì)報(bào)告可以節(jié)省很多成本，因?yàn)?LEO 使用衛(wèi)星應(yīng)用 COTS 在產(chǎn)品中，會(huì)在輻射測(cè)試、升級(jí)篩選和易生不良品分析上投入大量資金。

我們的報(bào)告包括：

● 針對(duì) TID 包括輻射報(bào)告 30krad (Si) 至 50krad (Si) 特性數(shù)據(jù)和 20krad (Si) 至 50krad (Si) 耐輻射加固保證數(shù)據(jù)

● 對(duì)于單粒子效應(yīng)的輻射報(bào)告，43MeVcm2/mg 電源管理產(chǎn)品的單粒子鎖定數(shù)據(jù)和額外的破壞性單粒子和單粒子瞬變特性。

● 釋放和可靠性報(bào)告提供產(chǎn)品流程、可靠性數(shù)據(jù)、可追溯性和釋放測(cè)試信息。報(bào)告中的信息有助于加快電路板認(rèn)證，減少對(duì)外部認(rèn)證工作的需求，從而最大限度地降低選擇新產(chǎn)品時(shí)面臨的風(fēng)險(xiǎn)，并確保設(shè)備從一開始就能正常工作。

表1列出了完整的航天EP設(shè)備產(chǎn)品組合。

表1已發(fā)布的航天EP器件

惡劣的空間環(huán)境需要提高可靠性，以確保系統(tǒng)的安全。使用我們的空間 EP 在下一次發(fā)射任務(wù)中，設(shè)備產(chǎn)品組合節(jié)省時(shí)間，降低風(fēng)險(xiǎn)。